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主機(jī)YC-620 

益測(cè)研發(fā)  用心設(shè)計(jì)

    2015年CES大展上，Intel聯(lián)合USB實(shí)施者論壇向公眾展示了USB 3.1的威力，具體搭配的接口是USB Type C，能夠正反隨便插，大小也與micro-USB相差無(wú)幾。理論上，USB 3.0 Type C的傳輸速度能夠達(dá)到10Gbps。

    Type-C是USB接口的一種連接介面，不分正反兩面均可插入，大小約為8.3mm×2.5mm，和其他介面一樣支持USB標(biāo)準(zhǔn)的充電、數(shù)據(jù)傳輸、顯 示輸出等功能。Type-C由USB Implementers Forum制定，在2014年獲得蘋(píng)果、谷歌、英特爾、微軟等廠(chǎng)商支持后開(kāi)始普及。

    隨著Type-C接口的普及，對(duì)Type-C數(shù)據(jù)線(xiàn)的需求日益增多，我們適時(shí)推出這款專(zhuān)用的測(cè)試儀器，用于產(chǎn)品量產(chǎn)檢測(cè)用，以幫助廣大廠(chǎng)商提高生產(chǎn)效率，控制好產(chǎn)品質(zhì)量。

【功能特點(diǎn)】

1、  采用32位ARM高速處理器設(shè)計(jì)。

2、  支持帶芯片的Type-C數(shù)據(jù)線(xiàn)測(cè)試。

3、  支持各種版本Type-C轉(zhuǎn)接線(xiàn)的測(cè)試：Type-C轉(zhuǎn)Type-C、Type-C轉(zhuǎn)USB3.0 A和B公、Type-C轉(zhuǎn)USB3.0 A和B母、Type-C轉(zhuǎn)USB2.0 A和B公、Type-C轉(zhuǎn)USB3.0 A和B母、Type-C轉(zhuǎn)Micro USB3.0和Micro USB2.0；支持Type-C轉(zhuǎn)Type-C HUB線(xiàn)3.0和3.1版的測(cè)試（信號(hào)線(xiàn)直連而非交叉）。

4、  支持Ra、Rd、Rp電阻的自動(dòng)識(shí)別檢測(cè)測(cè)試。

5、  支持E-MARKER芯片的檢測(cè)。

6、  支持EMarker讀碼、數(shù)據(jù)比對(duì)、型號(hào)識(shí)別功能。

7、  因?yàn)?/span>Type-C有多條電源線(xiàn)，儀器可以單獨(dú)檢測(cè)每一條電源線(xiàn)是否接通，也可以設(shè)定部分接通即可通過(guò)。

8、  測(cè)試線(xiàn)材內(nèi)阻、漏電阻（絕緣電阻）并根據(jù)設(shè)定參考值判定是否合格。

9、  支持VBus電容測(cè)試。

10、              支持通過(guò)GND和VBus阻值算出最大電流（儀器本身固定1A測(cè)試）。

11、              LCD顯示屏。

12、              顯示正插、反插。

13、              同時(shí)有聲音和LED指示測(cè)試結(jié)果。

14、              可以連接電腦，有PC軟件，實(shí)現(xiàn)更多功能，也可單獨(dú)使用。

15、              電腦軟件界面支持多種皮膚。

可以連接電腦升級(jí)固件，使設(shè)備擁有最新的功能。

【支持產(chǎn)品種類(lèi)】

注意：Type-C數(shù)據(jù)線(xiàn)本身是不分主從的，但是我們?yōu)榱藴y(cè)試方便以及更好地區(qū)分測(cè)試結(jié)果，人為把它分為主端、從端，插到主端測(cè)試板的插頭叫主端，插到從端測(cè)試板的插頭叫從端。

從設(shè)計(jì)上，要求左邊固定Type-C接口，右邊是什么接口換成相對(duì)應(yīng)的接口就行，否則機(jī)器無(wú)法正常測(cè)試（提示主端測(cè)試板錯(cuò)誤）。

【Type-C接口定義】

Type-C的工作方式：

一條完整的Type-C數(shù)據(jù)線(xiàn)原理圖：

注意USB3.0 3.1的信號(hào)線(xiàn)是交叉的，有多條電源線(xiàn)。

說(shuō)明：

電源線(xiàn)：Type-C有多條電源線(xiàn)。

1、  可以單獨(dú)設(shè)定每一條電源線(xiàn)的電阻。

2、  可以設(shè)定多條電源線(xiàn)并聯(lián)的內(nèi)阻。

3、  可以指定只要有部分電源線(xiàn)連通就可以測(cè)試通過(guò)。

USB2.0線(xiàn)（D+、D-)：充電器上D+、D-線(xiàn)有不同的連接方式，以設(shè)置充電方式和電流大小，特別是現(xiàn)在QC2.0充電器還使用D+、D-切換輸出電壓，所以D+、D-漏電阻不能過(guò)小，否則實(shí)際使用中可能影響到充電器對(duì)D+、D-的識(shí)別。

本儀器可以測(cè)出D+、D-的漏電阻（絕緣電阻），理論上D+、D-與其它線(xiàn)路是絕緣的，但實(shí)際產(chǎn)品由工藝的原因，可能會(huì)與其它線(xiàn)路產(chǎn)生漏電阻，漏電阻過(guò)小會(huì)影響數(shù)據(jù)通信，也可能改變充電器的分壓值影響充電速度，如果只考慮不影響數(shù)據(jù)通信可以設(shè)為20K，如果要考慮不影響充電器的分壓值，要設(shè)成200-300K。

USB3.0,TX1,RX1、USB3.1，TX2，RX2、SBU、CC：內(nèi)阻建儀設(shè)成3Ω，漏電阻20K。

CC線(xiàn)：是用于與E-Marker芯片通信的線(xiàn)，兩頭都有連接，并且根據(jù)產(chǎn)品種類(lèi)接Rp或Rd，更低配置的線(xiàn)是沒(méi)有E-Marker芯片的，Rp和Rd可以根據(jù)下表設(shè)定，一般用紅線(xiàn)內(nèi)的值。

主B5(Vconn)、從B5(Vconn)：Vconn是用來(lái)給E-Marker芯供電的，并且用于識(shí)別插入方向，如果用E-Marker芯片，內(nèi)部會(huì)接一個(gè)Ra（800-1200Ω）電阻到地，如果不用E-Marker芯片，Vconn一般是懸空的。

主端E-Marker、從端E-Marker：分別從兩端檢測(cè)E-Marker芯片，E-Marker芯片目前只檢測(cè)基本的通訊是否OK，不核對(duì)芯片上的數(shù)據(jù)。

主端屏蔽線(xiàn)、從端屏蔽線(xiàn)：是指數(shù)據(jù)線(xiàn)插頭外殼連接方式，一般懸空或接GND。

特殊選項(xiàng)：針對(duì)個(gè)別產(chǎn)品所做的特殊測(cè)試方法。

自動(dòng)啟動(dòng)測(cè)試：指滿(mǎn)足一定條件，儀器自動(dòng)開(kāi)始一次測(cè)試，比如檢測(cè)到被測(cè)電壓、儀器有輸出電流時(shí)啟動(dòng)一次測(cè)試，如果選擇儀器有輸出電流時(shí)啟動(dòng)，則上面的“儀器輸出方式”必須選為“一直輸出”，否則不可能產(chǎn)生輸出電流，另外可以隨時(shí)按儀器上“OK”鍵啟動(dòng)一次測(cè)試。

啟動(dòng)時(shí)間：指啟動(dòng)測(cè)試的反應(yīng)時(shí)間，選擇最快則可以響應(yīng)用戶(hù)快速插拔，有些線(xiàn)材方案輸出電壓不穩(wěn)定則應(yīng)選擇慢速，避免儀器反復(fù)啟動(dòng)測(cè)試。

【按鍵定義】

TEST：測(cè)試鍵，按一下測(cè)試一次。可以在軟件里設(shè)置為自動(dòng)測(cè)試，就是插入時(shí)自動(dòng)測(cè)試一次，如果需要再測(cè)，按“Test”鍵。

SET：選擇測(cè)試文件。

DOWN：向下查詢(xún)鍵，當(dāng)有多條錯(cuò)誤信息時(shí)，按此鍵查看。

UP：向上查詢(xún)鍵，當(dāng)有多條錯(cuò)誤信息時(shí)，按此鍵查看。

【問(wèn)題及故障解決】

1、  如果連續(xù)測(cè)試出錯(cuò)，請(qǐng)注意是否是由于插頭接不量引起，產(chǎn)量大，測(cè)試插座使用率高，會(huì)過(guò)早引起插座損壞。

2、  測(cè)試時(shí)避免手觸碰到轉(zhuǎn)接板上的電路，否則會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。

3、  本儀器只對(duì)上面所列項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，用戶(hù)在使用過(guò)程中可能因參數(shù)設(shè)置不同而產(chǎn)生不一樣的結(jié)果，比如設(shè)置內(nèi)阻參考值過(guò)小，儀器可能將產(chǎn)品判為NG，但數(shù)據(jù)線(xiàn)可能正常使用。所以要根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)合理設(shè)定。

4、  測(cè)試通過(guò)數(shù)據(jù)線(xiàn)在使用過(guò)程中還可能因?yàn)槭褂铆h(huán)境條件惡劣而不能正常使用，比如有的芯片在低溫下無(wú)法工作。

5、  有些數(shù)據(jù)線(xiàn)本身不穩(wěn)定，有虛焊或軟故障，也會(huì)造成誤測(cè)，比如在出廠(chǎng)測(cè)試時(shí)是OK的，經(jīng)過(guò)運(yùn)輸過(guò)程受到擠壓造成脫焊損壞。

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